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介電常數(shù)測(cè)定儀的應(yīng)用及特點(diǎn)您了解嗎？LJD-B主機(jī)和LJD-C主機(jī)主要區(qū)別 LJD-B主機(jī) LJD-C主機(jī) 測(cè)試頻率范圍 10kHz～70MHz/110MHz 100kHz～160MHz 主調(diào)電容控制 傳感器 步進(jìn)馬達(dá) 電容搜索 無(wú) 有

介電常數(shù)測(cè)試儀您了解多少？實(shí)心電絕緣材料的交流損耗特性和 電容率（介電常數(shù)）的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法1 本標(biāo)準(zhǔn)是以固定代號(hào)D150發(fā)布的。其后的數(shù)字表示原文本正式通過(guò)的年號(hào)；在有修訂的情況下，為上一次的修訂年號(hào)；圓括號(hào)中數(shù)字為上一次重新確認(rèn)的年號(hào)。上標(biāo)符號(hào)（ε）表示對(duì)上次修改或重新確定的版本有編輯上的修改。

絕緣紙介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)定儀能在較高的測(cè)試頻率條件下，測(cè)量高頻電感或諧振回路的Q值，電感器的電感量和分布電容量，電容器的電容量和損耗角正切值，電工材料的高頻介電常數(shù)和介質(zhì)損耗因數(shù)，高頻回路有效并聯(lián)及串聯(lián)電阻，傳輸線的特性阻抗等。該儀器廣泛地用于科研機(jī)關(guān)、學(xué)校、工廠等單位。

介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試儀 1．Q值測(cè)量 a．Q值測(cè)量范圍：2～1023； b．Q值量程分檔：30、100、300、1000、自動(dòng)換檔或手動(dòng)換檔；

介電常數(shù)測(cè)試儀詳細(xì)介紹有時(shí)在超過(guò)1000V的電壓下試驗(yàn)，則會(huì)引起一些與電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)無(wú)關(guān)的效應(yīng)，對(duì)此不予論述。

介電常數(shù)測(cè)定儀（介質(zhì)損耗測(cè)試儀）電容率（介電常數(shù)）的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法1 本標(biāo)準(zhǔn)是以固定代號(hào)D150發(fā)布的。其后的數(shù)字表示原文本正式通過(guò)的年號(hào)；在有修訂的情況下，為上一次的修訂年號(hào)；圓括號(hào)中數(shù)字為上一次重新確認(rèn)的年號(hào)。上標(biāo)符號(hào)（ε）表示對(duì)上次修改或重新確定的版本有編輯上的修改。

GB/T1409介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀高頻 Q 表作為新一代的通用、多用途、多量程的阻抗測(cè)試儀器，測(cè)試頻率上限達(dá)到目前國(guó)內(nèi)高的160MHz。 LJD-C高頻 Q 表采用了多項(xiàng)技術(shù)： 雙掃描技術(shù) - 測(cè)試頻率和調(diào)諧電容的雙掃描、自動(dòng)調(diào)諧搜索功能

介電常數(shù)測(cè)定儀源頭符合標(biāo)準(zhǔn)：GB/T1409、GB/T5594 產(chǎn)品用途：固體、液體絕緣材料的介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試 適用材料：橡膠塑料薄膜、陶瓷玻璃、絕緣材料、高分子材料等 測(cè)試范圍：10KHZ-70MHZ、100KHZ-160MHZ